一、QFN封裝PCB設計基本介紹 
	QFN(Quad Flat No Lead)是一種相對比較新的IC封裝形式,但由于其獨特的優(yōu)勢,其應用得到了快速的增長。QFN是一種無引腳封裝,它有利于降低引腳間的自感應系數(shù),在高頻領域的應用優(yōu)勢明顯。QFN外觀呈正方形或矩形,大小接近于CSP,所以很薄很輕。元件底部具有與底面水平的焊端,在中央有一個大面積裸露焊端用來導熱,圍繞大焊端的外圍四周有實現(xiàn)電氣連接的I/O焊端,I/O焊端有兩種類型:一種只裸露出元件底部的一面,其它部分被封裝在元件內;另一種焊端有裸露在元件側面的部分。 
	QFN采用周邊引腳方式使PCB布線更靈活,中央裸露的銅焊端提供了良好的導熱性能和電性能。這些特點使QFN在某些對體積、重量、熱性能、電性能要求高的電子產(chǎn)品中得到了重用。 
	由于QFN是一種較新的IC封裝形式,IPC-SM-782等
PCB設計指南上都未包含相關內容,本文可以幫助指導用戶進行QFN的焊盤設計和生產(chǎn)工藝設計。但需要說明的是本文只是提供一些基本知識供參考,用戶需要在實際生產(chǎn)中不斷積累經(jīng)驗,優(yōu)化焊盤設計和生產(chǎn)工藝設計方案,以取得令人滿意的焊接效果。 
	 
	二、QFN封裝描述 
	QFN的外形尺寸可參考其產(chǎn)品手冊,它符合一般工業(yè)標準。QFN通常采用JEDEC MO-220系列標準外形,在焊盤設計時可以參考這些外形尺寸(示例如圖1)。 
	圖1  QFN元件三維剖視圖和實物外觀 
	 
	三、QFN通用PCB設計指南 
	QFN的中央裸焊端和周邊I/O焊端組成了平坦的銅引線結構框架,再用模鑄樹脂將其澆鑄在樹脂里固定,底面露出的中央裸焊端和周邊I/O焊端,均須焊接到PCB上。 
	PCB焊盤設計應該適應工廠的實際工藝能力,以求取得最大的工藝窗口,得到良好的高可靠性焊點。需要說明的是中央裸焊端的焊接,通過“錨”定元件,不僅可以獲得良好的散熱效果,還可以增強元件的機械強度,有利于提高周邊I/O焊端的焊點可靠性。針對QFN中央裸焊端而設計的PCB散熱焊盤,應設計導熱過孔連接到PCB內層隱藏的金屬層。這種通過過孔的垂直散熱設計,可以使QFN獲得完美的散熱效果。 
	 
	四、QFN焊盤設計指南 
	1、周邊I/O焊盤 
	PCB I/O焊盤的設計應比QFN的I/O焊端稍大一點,焊盤內側應設計成圓形以配合焊端的形狀,詳細請參考圖2和表1。 
	圖2 典型的QFN元件焊端和PCB 焊盤外觀圖 
	 
	
		
			
			
			
			
		
		
			
				| 典型的QFN元件I/O焊端尺寸(mm) | 典型的PCB I/O焊盤設計指南(mm) | 
		
		
			
				| 焊盤間距 | 焊盤寬度(b) | 焊盤長度(L) | 焊盤寬度(X) | 外延(Tout) | 內延(Tin) | 
			
				| 0.8 | 0.33 | 0.6 | 正常0.42 | 最小0.15 | 最小0.05 | 
			
				| 0.65 | 0.28 | 0.6 | 正常0.37 | 最小0.15 | 最小0.05 | 
			
				| 0.5 | 0.23 | 0.6 | 正常0.28 | 最小0.15 | 最小0.05 | 
			
				| 0.5 | 0.23 | 0.4 | 正常0.28 | 最小0.15 | 最小0.05 | 
			
				| 0.4 | 0.2 | 0.6 | 正常0.25 | 最小0.15 | 最小0.05 | 
		
	
 
	                                                                      表1 I/O焊盤設計指南 
	 
	如果PCB有設計空間, I/O焊盤的外延長度(Tout)大于0.15mm,可以明顯改善外側焊點形成,如果內延長度(Tin)大于0.05mm,則必須考慮與中央散熱焊盤之間保留足夠的間隙,以免引起橋連。 
	2、中央散熱焊盤 
	中央散熱焊盤應設計比QFN中央裸焊端各邊大0-0.15mm,即總的邊長大出0-0.3mm,但是中央散熱焊盤不能過分的大,否則,會影響與I/O焊盤之間的合理間隙,使橋連概率增加。此間隙最小為0.15mm,可能的話,最好是0.25mm或更大。 
	3、散熱過孔 
	散熱過孔應按1.0mm-1.2mm的間隙均勻分布在中央散熱焊盤上,過孔應連通到PCB內層的金屬接地層上,過孔直徑推薦為0.3mm-0.33mm。 
	雖然增加過孔(減小過孔間隙),表面上看好象可以改善熱性能,但因為增加過孔的同時也增加了熱氣回來的通道,所以實際效果不確定,需要根據(jù)實際PCB的情況來決定(如PCB散熱焊盤尺寸、接地層)。 
	4、阻焊層設計 
	目前有兩種阻焊層設計類型:SMD(Solder Mask Defined)和NSMD(Non-Solder Mask Defined)。SMD:阻焊層開口小于金屬焊盤;NSMD:阻焊層開口大于金屬焊盤。 
	由于在銅腐蝕工藝中更易控制,所以NSMD工藝更優(yōu)選。而且SMD工藝會使焊盤阻焊層與金屬層重疊區(qū)域壓力集中,在極端疲勞條件下容易使焊點開裂。采用NSMD工藝則使焊錫圍繞在金屬焊盤邊緣,可以明顯改善焊點的可靠性。 
	由于以上原因,在中央散熱焊盤和周邊I/O焊盤的阻焊層設計中一般都推薦采用NSMD工藝。但是,在尺寸相對比較大的中央散熱焊盤阻焊層設計中應該采用SMD工藝。 
	在采用NSMD工藝時,阻焊層開口應比焊盤大120um-150um,即在阻焊層與金屬焊盤之間留有60um-75um的間隙,弧形焊盤應設計相應的弧形阻焊層開口與之匹配,特別是在拐角處應有足夠的阻焊層以阻止橋連。 
	 
	每個I/O焊盤應單獨設計阻焊層開口,這樣可以使I/O相鄰焊盤之間布滿阻焊層,阻止相鄰焊盤之間形成橋連。但是,針對I/O焊盤寬度為0.25mm,間距只有0.4mm的細間距QFN,只能將處于一邊的所有I/O焊盤統(tǒng)一設計一個大的開口,這樣I/O相鄰焊盤之間就沒有了阻焊層。 
	I/O焊盤之間有阻焊層                                                         I/O焊盤之間無阻焊層
	 
	有些QFN的中央裸焊端設計過大,使得與周邊I/O焊端之間的間隙很小,很容易引起橋連。在這種情況下,PCB散熱焊盤的阻焊層設計應采用SMD工藝,即阻焊層開口應每邊縮小100um,以增加中央散熱焊盤與I/O焊盤之間的阻焊層面積。 
	阻焊層應覆蓋散熱焊盤上的過孔,以防止焊錫從散熱過孔中流失,使QFN中央裸焊端與PCB中央散熱焊盤之間形成空焊。過孔阻焊層的直徑應比過孔直徑大100um,建議在PCB背面涂布阻焊油堵塞過孔,這樣可以在正面散熱焊盤上會形成許多空洞,這些空洞有利于在回流焊接過程中釋放氣體,并圍繞過孔形成更大的氣泡,需要特別說明的是,這些氣泡的存在不會影響熱性能、電性能和焊點可靠性,是可以接受的。 
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